报告题目：电子元器件早期失效的判断研究

报告时间：2014年11月11日（星期二）10:30

报告地点：理学院报告厅（理-352）

报告人：姚文清 高级工程师（国家电子能谱中心副主任，清华大学分析中心表面分析室主任）

报告内容：电子元器件可靠性是保证飞行器安全升空、长期运行的前提。然而长期在宇宙环境中工作的元器件，不可避免地会受到空间原子氧、热循环和紫外辐照等低地球轨道空间环境因素的作用，可能引起某些元器件的密封破坏、管脚断裂、内引线键合点脱开等而最终失效。通过研究界面元素扩散、化学反应以及界面产物分布，揭示初期腐蚀反应的动力学模型、腐蚀产物及其分布以及微观腐蚀机制，建立器件腐蚀和失效的早期判断新方法，从而实现以表面分析为基础的航天环境下电子元器件腐蚀的微观评价。

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报告人简介：姚文清，高级工程师。国家电子能谱中心副主任，清华大学分析中心表面分析室主任。先后获得北京理工大学工学学士和清华大学工程硕士，并作为高级访问学者到访香港理工大学访问研究。自1995年以来，一直从事固体材料表面结构化学、纳米薄膜材料、环境催化材料的研究。承担973、863、科技部创新方工作专项、国家标准委质检公益性行业科研专项、国家自然基金委仪器专项、军工配套等项目的研究。在国内外学术刊物上发表学术论文95篇，论著2部，发布国际标准1项、国家标准7项，中国发明专利授权及申请3项。获国家自然科学奖二等奖1项、教育部自然科学奖一等奖1项，教育部科学技术进步奖二等奖2项。学术兼职：国际标准委员会（ISO/TC201/SC4）委员；全国微束分析标准化委员会表面化学分析分技术委员会副主任，北京理化分析测试协会表面分析技术委员会副理事长，东北大学秦皇岛分校兼职教授。